|
|
Производитель |
Назначение |
1. |
Автоматический трехкружный рентгеновский дифрактометр ДСО-2В2 (DSO-2V2). |
ООО ИТЦ РАДИКОН, Россия |
Автоматическое уточнение ориентации монокристаллических пластин относительно поверхности кристалла, включая уточнение направления базового сре |
2. |
Дериватограф Термоскан-2 (Аналитприбор) |
ООО"Аналитприбор", Россия |
Установка для дифференциально-термического и термогравиметрического анализа. Измерение температуры, теплоты процессов и величины потери веса образца при нагреве с постоянной скоростью при кристаллизации, испарении, полиморфных превращениях, плавлении, разложении, хим. реакциях и др. |
3. |
Дополнительное оборудование - комплект дооснащения ИК Фурье спектрометра Vertex 70 |
Vertex 70, Германия |
Для лаборатории спектроскопии, на базе которой выполняется разработка способов оценки загрязнения окружающей среды с помощью ИК спектроскопического анализа |
4. |
ИК-спектрометр Фурье Vertex 70 |
Vertex 70, Германия |
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области инфракрасной спектрометрии |
5. |
Инвертированный микроскоп отраженного света Axiovert 200 MAT (Carl Zeiss) с опцией устройства проходящего света |
Carl Zeiss, Германия |
Проведение исследования в отраженном свете по методам светлого поля, темного поля, фазового контраста, дифференциально- интерференционного контраста (DIC) и при флуоресценции в отраженном свете |
6. |
Интерферометр высокого разрешения сканирующий в белом свете NanoMap 1000WLI (SEAP TECHNOLOGY) |
SEAP TECHNOLOGY, США |
Интерферометр высокого разрешения сканирующий в белом свете, использующийся для бесконтактной профилометрии |
7. |
Кластерный комплекс IBM BladeCenter H |
IBM, США |
Развитие вычислительных ресурсов |
8. |
Кластерный комплекс Intel MFSYS25V2 |
Intel, США |
Развитие вычислительных ресурсов. Координация работ, комплексная поддержка развития и использования новых информационных технологий в системе образования Тверского региона |
9. |
Комплекс для экологического мониторинга воды, почвы и воздуха |
Thermo FisherScientific; Thermo Electron Corporation, США |
Для экологического мониторинга воды, почвы и воздуха |
10. |
Комплекс оборудования для исследования супрамолекулярных систем в комплектации, включая вискозиметр (Zetasizer Nano ZS) |
Zetasizer Nano ZS, Великобритания |
Предназначен для исследования супрамолекулярных систем Прибор может быть востребован для исследований, проводимых в высших учебных заведениях и научных организациях г. Твери. |
11. |
Метаболограф VO 2000 |
MedGraphics, США |
Анализатор для измерения состава газов при дыхательном цикле с нагрузкой и без |
12. |
Мобильный комплекс по определению показателей энергоэффективности |
Германия, США, Великобритания, Россия |
Проведение энергетических обследований |
13. |
Модульная ВЖХ-система UltiMate 3000 с изократическим насосом и фотометрическим детектором (хроматограф) |
Dionex, Германия |
Предназначена для проведения высокоэффективной жидкостной хроматографии с фотометрическим детектированием |
14. |
Печь трубчатая трехзонная в компл.с турбомолекуляр. стендом |
Carbolite, Великобритания |
Для нагрева max до 1500 градусов, вакуумная система для создания вакуума |
15. |
Прибор для синхронного термического анализа STA449F3 (Netzsch) |
Netzsch, Германия |
Одновременное проведение термогравиметрических и калориметрических измерений на одном образце. Исследование следующих величин и процессов: температуры и теплоты плавления и кристаллизации, фазовые переходы в твердом состоянии, полиморфизм, стеклование, реакции сшивания полимеров, окислительная устойчивость, режимы окисления, температурная стабильность, разложение и пр. Обеспечение воспроизводимости получаемых результатов и снижение влияния человеческого фактора на результат измерений. Предназначен для работ в температурном диапазоне от 20 до 2400 ºC в режимах ДТА/ДСК/ТГ в различных газовых атмосферах |
16. |
Программно-аппаратный комплекс JEOL JSM-6610LV для микроанализа и морфологического анализа поверхности (растровый электронный микроскоп) |
JEOL, Япония |
Для микроанализа и морфологического анализа поверхности |
17. |
Программно-аппаратный комплекс NanoEducator2 SPM02ED |
ЗАО «НТИ», Россия |
Для микроанализа и морфологического анализа поверхности |
18. |
Программно-аппаратный комплекс для синтеза образцов оксидных соединений |
CyberStar, Франция |
Выращивание монокристаллов парателлурита |
19. |
Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47 |
НТ-МДТ, Россия |
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и др. |
20. |
Сканирующий ИК-микроскоп "Hyperion 1000" (Bruker) |
Bruker Corporation, Германия |
Получение ИК спектра с возможностью визуализации образца |
21. |
Спектрометр УФ и видимой области спектра Evolution Array |
Evolution Arrey, США |
Регистрация спектров жидких и твердых образцов в УФ и видимом диапазонах в режиме ультрабыстрого сканирования. Спектральный диапазон 190-1100 нм., источники излучения дейтериевая и голлогеновая лампы. |
22. |
Установка для получения и последующего сжижения азота NL 280 |
Kelvin IC, США |
Предназначена для получения и последующего сжижения азота |
23. |
Цифровой осциллограф смешанных сигналов MS04034B |
Tektronix, США |
Многоканальный анализ смешанных аналоговых и цифровых сигналов для широкого класса радиоэлектронных преобразователей |
24. |
Электронейромиограф МВП-8 |
ООО «Нейрософт», Россия |
Регистрация и анализ вызванных потенциалов мозга |